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表面粗糙度的測(cè)量方法簡(jiǎn)介
2024-01-31 瀏覽量:311 關(guān)鍵詞:雅頓機(jī)電,粗糙度測(cè)量?jī)x,粗糙度輪廓儀,表面粗糙度測(cè)量?jī)x,軸類光學(xué)測(cè)量?jī)x,Hommel,Jenoptik,非接觸式 3D 測(cè)量,FLEX-3A系列測(cè)量?jī)x器,光學(xué)檢測(cè)儀器,三坐標(biāo)測(cè)量 發(fā)布者:雅頓機(jī)電

表面粗糙度是指加工件表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度。其兩波峰或兩波谷之間的距離(波距)很小(在1mm以下),它屬于微觀幾何形狀誤差。表面粗糙度越小,則表面越光滑。通常把波距小于1mm尺寸的形貌特征歸結(jié)為表面粗糙度,1~10mm尺寸的形貌特征定義為表面波紋度,大于10mm尺寸的形貌特征定義為表面形貌。

                             

目前常用的表面粗糙度測(cè)量方法主要有樣板比較法,光切法,干涉法,觸針?lè)ǖ取?

1. 比較法  它是在工廠里常用的方法, 用眼睛或放大鏡,對(duì)被測(cè)表面與粗糙度樣板比較,或用手摸靠感覺(jué)來(lái)判斷表面粗糙度的情況;這種方法不夠準(zhǔn)確,憑經(jīng)驗(yàn)因素較大,只能對(duì)粗糙度參數(shù)值較大情況,給個(gè)大概范圍的判斷。

2. 光切法  它是利用光切原理來(lái)測(cè)量表面粗糙度的方法。在實(shí)驗(yàn)室中用光切顯微鏡或者雙管顯微鏡就可實(shí)現(xiàn)測(cè)量,它的測(cè)量準(zhǔn)確度較高,但它是與對(duì)Rz,Ry 以及較為規(guī)則的表面測(cè)量,不適用于對(duì)測(cè)量粗糙度較高的表面及不規(guī)則表面的測(cè)量。

3. 干涉法  它是利用光學(xué)干涉原理測(cè)量表面粗糙度的一種方法。這種方法要找出干涉條紋,找出相鄰干涉帶距離和干涉帶的彎曲高度,就可測(cè)出微觀不平度的實(shí)際高度;這種方法調(diào)整儀器比較麻煩,不太方便,其準(zhǔn)確度和光切顯微鏡差不多;

4.觸針?lè)?/span>  它是利用儀器的測(cè)針與被測(cè)表面相接觸,并使測(cè)針沿其表面輕滑過(guò)測(cè)量表面粗糙度的測(cè)量方法。采用這種方法的儀器zui大量的就是電動(dòng)輪廓儀,它的特點(diǎn)是:顯示數(shù)值直觀,可測(cè)量許多形狀的被測(cè)表面,如軸類,孔類,錐體,球類,溝槽類工件,測(cè)量時(shí)間少,方便快捷。

蘇州雅頓機(jī)電-德國(guó)Jenoptik集團(tuán)中國(guó)區(qū)的授權(quán)經(jīng)銷商,為國(guó)內(nèi)外制造企業(yè)提供霍梅爾(Hommel)檢測(cè)設(shè)備和檢測(cè)技術(shù)服務(wù)。銷售的工業(yè)測(cè)量系列設(shè)備包括:Waveline粗糙度和輪廓測(cè)量技術(shù)設(shè)備、Formline形狀測(cè)量技術(shù)設(shè)備、Opticline軸類光學(xué)測(cè)量技術(shù)設(shè)備、Gageline氣動(dòng)測(cè)量技術(shù)設(shè)備、Otto Vision三維掃描測(cè)量技術(shù)等設(shè)備。

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